2018年第79回応用物理学会秋季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

[21p-135-1~16] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

2018年9月21日(金) 13:00 〜 17:15 135 (135)

上野 智雄(農工大)、嵯峨 幸一郎(ソニー)

15:30 〜 15:45

[21p-135-10] Ge表面におけるグラフェン・アシストエッチングの基礎研究
~エッチング速度の温度依存性と活性化エネルギーの評価~

平野 智暉1、中田 裕己1、山下 裕登1、李 韶賢1、川合 健太郎1、山村 和也1、有馬 健太1 (1.阪大院工)

キーワード:半導体表面、還元グラフェン、エッチング

我々は,水中で還元グラフェンシートと接触したGe表面が選択的にエッチングされる,グラフェン・アシストエッチングの基礎特性を調査している.今回は,そのエッチング速度を向上させることを目指して,エッチング速度の温度依存性を取得した.この実験結果を基にアレニウスプロットを描くと,還元グラフェンシートと接触することによって,系の活性化エネルギーが低下することを見出した.