2018年第65回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

[18a-B301-1~11] 13.1 Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション

2018年3月18日(日) 09:00 〜 12:00 B301 (53-301)

森 伸也(阪大)、蓮沼 隆(筑波大)

11:15 〜 11:30

[18a-B301-9] 触媒活性を持つ還元グラフェンによるGe表面の選択エッチングと機構解明

平野 智暉1、中出 和希1、李 韶賢1、川合 健太郎1、山村 和也1、有馬 健太1 (1.阪大院工)

キーワード:半導体表面、還元グラフェン、エッチング

還元グラフェンのフレークを単一レベルでGe表面上に散布し、水中に浸漬した。浸漬後に得られた表面形状をAFMにより観察し、還元グラフェンフレーク直下のGe表面が選択的にエッチングされることを見出した。さらに、このグラフェンアシストエッチングの基礎特性を明らかにした。加えて、これらを基に、加工メカニズムや、エッチング速度を律速する実験パラメータについて考察した。