The 65h JSAP Spring Meeting, 2018

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Oral presentation

6 Thin Films and Surfaces » 6.3 Oxide electronics

[18p-C102-1~16] 6.3 Oxide electronics

Sun. Mar 18, 2018 1:45 PM - 6:00 PM C102 (52-102)

Yasuhisa Naitoh(AIST), Shoso Shingubara(Kansai Univ.)

4:45 PM - 5:00 PM

[18p-C102-12] Fabrication of a three-valued memory device based on the switching of a standard electrode potential

〇(B)Yuki Watanabe1, Ryota Shimizu1,2, Kazunori Nishio1, Issei Sugiyama1, Wei Liu3, Satoshi Watanabe3, Taro Hitosugi1 (1.Tokyo Tech., 2.JST-PRESTO, 3.Univ. Tokyo)

Keywords:multi-valued memory, interface, Li ion conductor

これまで、我々は異種金属間標準電極電位差を利用したメモリデバイス(VolRAM)を報告した。これはLi/Li3PO4/Auの積層構造であり、Li3PO4/Au界面でのLi-Au合金、脱合金反応による電位差変化がメモリ動作に対応している。Au電極では、Liと合金相を形成してしまい、Liイオンの挙動を理解することは難しい。本研究では、Liと合金を形成しないNiを用いて、動作メカニズムの検討を目指した。その結果、3つの異なる電位状態を保持できることを見出したので報告する。