[18p-C201-1~7] イオンビームと表面分析：二次イオン質量分析法（SIMS）の最近の進歩と有機分析への応用

[18p-C201-5] 分子クラスターイオンビーム照射による有機分子の脱離イオン化

〇盛谷 浩右¹ (1.兵庫県立大工)

キーワード：二次イオン質量分析、クラスターイオンビーム、脱離イオン化

サイズを選別した水やメタノール等の分子クラスターイオンビームを有機分子薄膜に照射し、放出された二次イオンを質量分析した。水など極性分子クラスターの照射による有機分子のイオン化には、クラスター衝突時におきるプロトン付加反応により、二次イオン強度が増強することがわかった。講演では分子クラスター衝突時におきる表面化学反応のメカニズムについて議論する。