[18p-G203-1~18] 13.5 Semiconductor devices and related technologies

[18p-G203-16] 3D-TLC NAND Flash memory-based Value-Aware SSD for Image Recognition System with Deep Neural Network

〇Yoshiaki Deguchi¹, Toshiki Nakamura¹, Ken Takeuchi¹ (1.Chuo Univ.)

Keywords:TLC NAND flash memory, deep learning, reliability

近年、低電力や高速化のために、精度を落として動作させるApproximate Computingが広く研究されている。本講演では、TLC NAND型フラッシュメモリに対するApproximate Computingとして、Value-Aware SSDを提案する。Value-Aware SSDでは、TLC NAND型フラッシュメモリの非対称的なエラーが生じることを利用する2つの手法を利用する。これにより、顔認識システムの高信頼化を実現でき、許容可能ビットエラー率を27倍に向上することができた。