[18a-C310-1~10] 6.6 プローブ顕微鏡

△ [18a-C310-3] ヘテロダイン方式周波数変調ケルビンプローブ力顕微鏡によるバンド曲がりの影響を除いた表面電位測定

〇宮崎 雅大¹、安達 有輝¹、李 艶君¹、菅原 康弘¹ (1.阪大院工)

キーワード：ケルビンプローブ力顕微鏡、酸化チタン、バンド曲がり