The 80th JSAP Autumn Meeting 2019

Presentation information

Oral presentation

15 Crystal Engineering » 15.6 Group IV Compound Semiconductors (SiC)

[20p-E311-1~17] 15.6 Group IV Compound Semiconductors (SiC)

Fri. Sep 20, 2019 1:30 PM - 6:15 PM E311 (E311)

Hiroshi Yano(Univ. of Tsukuba), Yasunori Tanaka(AIST)

6:00 PM - 6:15 PM

[20p-E311-17] Optically detected magnetic resonance of 3D arrayed silicon vacancies in SiC pn diodes

Yuichi Yamazaki1, Yoji Chiba1,2, Shin-Ichiro Sato1, Takahiro Makino1, Naoto Yamada1, Takahiro Satoh1, Yasuto Hijikata2, Kazutoshi Kojima3, Hidekazu Tsuchida4, Norihiro Hoshino4, Takeshi Ohshima1 (1.QST, 2.Saitama Univ., 3.AIST, 4.CRIEPI)

Keywords:Silicon vacancy, Quantum sensor

炭化ケイ素(SiC)を母材とする点欠陥であるシリコン空孔(Vsi)を用いた量子センサ実現に向けて、プロトンビーム描画(PBW)を用いた3 次元配列Vsiの作製およびその光学特性を評価した。プロトンエネルギーを変えることで深さ制御されたそれぞれのVsiから光検出磁場共鳴(ODMR)スペクトル(@ゼロ磁場)が得られ、量子センサとして使用可能な3 次元配列Vsi 形成に成功した。