2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・MEMS・装置技術

[15p-A305-1~9] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・MEMS・装置技術

2020年3月15日(日) 13:45 〜 16:30 A305 (6-305)

原 明人(東北学院大)、岡田 竜弥(琉球大)

14:15 〜 14:30

[15p-A305-3] ポリイミド膜上(100)配向CWレーザ結晶化によるSi薄膜成長

佐々木 伸夫1,2,3、Muhammad Arif2、浦岡 行治2、後藤 順3、杉本 重人3 (1.Sasaki Consulting、2.奈良先端大、3.ブイ・テクノロジー)

キーワード:レーザ結晶化、結晶方位、SOI

1回スキャンの(100)配向CWレーザ結晶化法により、ポリイミド薄膜上で、50 nm Si 薄膜の結晶成長を行った。