The 82nd JSAP Autumn Meeting 2021

Presentation information

Oral presentation

7 Beam Technology and Nanofabrication » 7.3 Micro/Nano patterning and fabrication

[11a-N401-1~5] 7.3 Micro/Nano patterning and fabrication

Sat. Sep 11, 2021 9:00 AM - 10:15 AM N401 (Oral)

Jiro Yamamoto(Hitachi), Jun Taniguchi(Tokyo Univ. of Sci.)

9:15 AM - 9:30 AM

[11a-N401-2] Surface Property Control for 193nm Immersion Resist by the Si material addition

Chen Tang1, Atsushi Sekiguchi2,3, Masaaki Yasuda3, Yoshihiko Hirai3 (1.Shanghai Sinyang Semi. Mater. Co., Ltd, 2.LTJ Co., Ltd, 3.Osaka Pref. Univ.)

Keywords:ArF, liquid erosion, resist

ArF液浸用レジストは、ArFドライレジストを異なり、レジスト表面と露光機のレンズの間に液浸液が存在する。そのため、PAGの液浸液への溶出や、レジスト表面に液浸液が残ってしまい、ディフェクトとなるウォーターマークなどが問題となる。そこで、ArF液浸レジストにF系添加材を加えることで、プリベーク後にレジスト表面にF偏析層を形成して、PAGのリーチングを防ぎ、また、液浸液との接触角を上げて、水追従性の向上が検討されている。しかし、Fは、ドライエッチング耐性が低いという問題があった。そこで、我々は、Fの代わりにSi系添加材を用いると事で、PAGのリーチングの防止、液浸液との接触角を向上させると共に、ドライエッチング耐性も高めた、新たなArF液浸露光用レジストを開発したので、報告する。