The 68th JSAP Spring Meeting 2021

Presentation information

Oral presentation

15 Crystal Engineering » 15.7 Crystal characterization, impurities and crystal defects

[19p-Z29-1~13] 15.7 Crystal characterization, impurities and crystal defects

Fri. Mar 19, 2021 1:00 PM - 4:45 PM Z29 (Z29)

Kazuhisa Torigoe(SUMCO), Takuo Sasaki(QST)

4:00 PM - 4:15 PM

[19p-Z29-11] Large-scale atomic level calculation of vacancy clusters in Si crystal using ANN potential (2)

〇(M1)Takuto Ushiro1, Tatsuya Yokoi2, Yusuke Noda3, Eiji Kamiyama4, Masato Ohbitsu1, Hiroki Nagakura1, Koji Sueoka4 (1.Graduate School of Engineering, Okayama Pref. Univ., 2.Graduate School of Engineering, Nagoya Univ., 3.Kanazawa Gakuin Univ., 4.Okayama Pref. Univ.)

Keywords:silicon, vacancy, deep learning

シリコン結晶内の微小な欠陥は,実験で検出することが難しいため,計算機による解析が有効である.機械学習を用いて開発した原子間ポテンシャルでは,精度良く,かつ低い計算コストで解析を行うことができる.今回は,第一原理計算の学習データとして分子動力学法(DFT-MD)や表面モデルの計算結果を追加し,ANNポテンシャルの適用範囲の拡大と,さらなる精度の向上を目指した.