The 70th JSAP Spring Meeting 2023

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.4 Si processing /Si based thin film / MEMS / Equipment technology

[16a-B410-1~9] 13.4 Si processing /Si based thin film / MEMS / Equipment technology

Thu. Mar 16, 2023 9:00 AM - 11:30 AM B410 (Building No. 2)

Masato Sone(Tokyo Tech), Reo Kometani(Univ. of Tokyo)

9:15 AM - 9:30 AM

[16a-B410-2] Strain Rate Dependence on the Sample Size Effect in Compression of Electroplated Gold Micro-Pillars

〇(B)Shota Kanno1, Taro Omura1, Tomoyuki Kurioka1, Chun-Yi Chen1, Parthojit Chakraborty1, Katsuyuki Machida1, Hiroyuki Ito1, Yoshihiro Miyake1, Masato Sone1, Tso-Fu Mark Chang1 (1.Tokyo Tech)

Keywords:MEMS, Gold, Sample size effect

金材料はMEMS加速度センサへの応用が期待されている。その開発に向けて、微小金材料の機械特性評価は重要である。したがって、サンプルサイズ効果とひずみ速度依存性の関係を明らかにする研究を行った。結果として、本研究の試験片サイズではひずみ速度依存性に対するサンプルサイズの影響は小さいことが明らかになった。