[J041p] 超音波計測・解析法の新展開［ポスター］

[J041p-12] 微小引張変形による金属ナノ接点のコンダクタンス変化

〇波戸元 俊輔¹、近藤 俊之^1,2、中村 暢伴¹ (1. 大阪大学、2. 九州大学)

キーワード：微小引張試験、金属ナノ接点、抵抗スペクトロスコピー、量子化コンダクタンス