スケジュール 0 09:30 〜 09:45 [J122-03] 振動の精密リサージュ図形描画アルゴリズムとこれを用いた状態監視/装置診断の指標化に関する研究 〇佐藤 健太1、大戸 正之1、轟原 正義1、吉川 泰史1、瀧谷 俊夫2、北村 暁晴2 (1. セイコーエプソン株式会社、2. 日立造船株式会社) キーワード:装置診断技術、振動計測、リサージュ解析、加速度センサ