[J122p] 解析・設計の高度化・最適化［ポスター］

[J122p-08] 機械学習を用いた InP 表面 STM 像の解析精度向上化

〇髙橋 龍吉¹、稲見 栄一¹ (1. 高知工科大学)

キーワード：機械学習、走査型トンネル顕微鏡、InP