スケジュール 0 10:10 〜 11:50 [P2033] Micro-XRFにおける回折X線影響の対策と評価 ○柳井 優花1、村田 駿介1、松永 大輔1、馬場 朋広1、西村 智椰1、中野 ひとみ2、青山 朋樹1、駒谷 慎太郎2 (1. 株式会社堀場製作所、2. 株式会社堀場テクノサービス) キーワード：Micro-XRF、エネルギー分散型蛍光X線分析、EDX、非破壊分析、鉱物分析、文化財分析、異物分析、軽元素分析 抄録パスワード認証要旨の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。 パスワード 認証
