スケジュール 2 10:30 〜 10:45 [E1006] セラミック基複合材料における小角散乱画像を用いた段階的なき裂検出 ○沖浦 慶彦1、田中 義久1、松岡 丈平1 (1. 東京工科大学大学院 バイオ・情報メディア研究科) キーワード：セラミックス基複合材料、き裂検出、機械学習、非破壊検査、画像認識、小角散乱画像 抄録パスワード認証要旨の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。 パスワード 認証
