スケジュール 0 10:10 〜 11:50 [P2003] fsLA-spICP-MSによる積層デバイス向けセラミックスシート中の粒子状汚染物質評価 ○山下 真弘1、中西 将太1、関 広美1 (1. 京セラ(株)) キーワード:spICP-MS、fsLA-spICP-MS、LA-ICP-MS、nanoparticle、contamination 抄録パスワード認証要旨の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。 パスワード 認証