スケジュール 0 10:10 〜 11:50 [P2011] ポリイミド樹脂の超臨界メタノール処理サンプル解析へのダイレクト質量分析法の適用 ○三島 有二1、斎藤 元明1、藤井 麻樹子2、津越 敬寿3 (1. (株)神戸工業試験場、2. 横浜国立大学、3. 産業技術総合研究所) キーワード：イオン付着イオン化質量分析法、超臨界メタノール処理、分子イオン計測、網羅的検出 抄録パスワード認証要旨の閲覧にはパスワードが必要です。パスワードを入力して認証してください。 パスワード 認証
