理研計器のその場分析装置

講演情報

(ポスター講演)

07: 産業界 R&D 紹介講演（ポスター発表）

2024年5月19日(日) 10:10 〜 11:50 P/Y会場（産業界R&D紹介ポスター） (体育館)

10:10 〜 11:50

○山下大輔¹、石崎温史¹ (1. 理研計器（株）)

キーワード：Photoemission Yield Spectroscopy、X-ray Diffraction、X-ray Fluorescence、Gas detector

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