一般セッション(ポスター講演)

[17a-P11-1~11] 3.4 計測光学

2013年9月17日(火) 09:30 〜 11:30 P11 (デイヴィス記念館 )

△：奨励賞エントリー
▲：英語発表
▼：奨励賞エントリーかつ英語発表
空欄：どちらもなし

+全てマイスケジュールに登録

09:30 〜 11:30

[17a-P11-1] 基準面と試料の非平行配置における低コヒーレンスディジタルホログラフィを用いた屈折率分布計測のための配置条件の考察

^○渡辺果歩¹，野村孝徳² (和歌山大院システム工¹，和歌山大システム工²)

09:30 〜 11:30

[17a-P11-2] 低コヒーレンス光源を用いたディジタルライトインフライトホログラフィによるシングルショット3次元形状計測

^○田中裕二¹，野村孝徳² (和歌山大院　システム工¹，和歌山大　システム工²)

09:30 〜 11:30

[17a-P11-3] 空間領域差分計測法による高分解能イメージング技術

^○内田和人，長田俊人 (東大物性研)

09:30 〜 11:30

[17a-P11-4] 複屈折イメージング装置を用いた結晶評価法の開発

^○真中浩貴¹，野村慎也¹，赤坂卓英¹，八木元太¹，三浦陽子² (鹿児島大院理工¹，鈴鹿工専²)

09:30 〜 11:30

[17a-P11-5] 蛍光寿命測定用レーザダイオード光源の高速パルス駆動

^○水野孝彦，水谷康弘，岩田哲郎 (徳大院)

09:30 〜 11:30

[17a-P11-6] 長さの物差しに使われる隣接するパルス繰返し間隔長

^○韋冬，明田川正人 (長岡技大工機械)

09:30 〜 11:30

[17a-P11-7] 高反射ミラーの微小複屈折測定

^○（M2）千葉智弘 (東大物工)

09:30 〜 11:30

[17a-P11-8] スロット導波路を利用した導波路型光センサの開発

^○山岡大志，横井秀樹 (芝浦工大　院理工)

09:30 〜 11:30

▲ [17a-P11-9] 励起光入射によるエルビウム添加光ファイバ中のブリルアン散乱信号の増幅

^○丁明杰，林寧生，水野洋輔，中村健太郎 (東工大)

09:30 〜 11:30

[17a-P11-10] ナノ構造評価のための透過型分光ミュラー行列偏光計

^○（M1）鎌田葉¹，杉坂純一郎^1,2，大谷幸利¹，谷田貝豊彦¹ (宇都宮大CORE¹，北見工業大²)

09:30 〜 11:30

[17a-P11-11] 強度輸送方程式によるシングルショット複素振幅計測法

^○夏鵬¹，粟辻安浩¹，裏升吾¹，西尾謙三¹，的場修² (京工繊大¹，神戸大²)

一般セッション(口頭講演)

[17p-C13-1~14] 3.4 計測光学

2013年9月17日(火) 13:30 〜 17:15 C13 (TC3 2F-214)

△：奨励賞エントリー
▲：英語発表
▼：奨励賞エントリーかつ英語発表
空欄：どちらもなし

+全てマイスケジュールに登録

13:30 〜 13:45

[17p-C13-1] 「応用物理学会論文奨励賞受賞記念講演」（15分）Defect Inspection Technique Using Surface Plasmon Resonance

^○柏木宏之 (東芝)

13:45 〜 14:00

[17p-C13-2] 多波長ディジタルホログラフィーによる直管内計測

^○横田正幸，小山徹平 (島根大)

14:00 〜 14:15

△ [17p-C13-3] 導波モードセンサを利用した水素ガスの検知

^○（M1）傅梦穎¹，大木義路¹，田嶌一樹²，吉村和記²，王暁民²，藤巻真²，粟津浩一² (早大先進理工¹，産総研²)

14:15 〜 14:30

[17p-C13-4] 欠陥検査のための空間-時間列変換を用いた超高速撮像技術

^○服部竜己¹，下田勇一¹，石井晴幸¹，斎藤佳大¹，中尾敏之²，渡辺正浩²，吉武康裕¹，合田圭介³ (日立ハイテクノロジーズ¹，日立製作所　横浜研究所²，東大院理³)

14:30 〜 14:45

[17p-C13-5] 反射分光式シリコンウェハ厚さ計で用いる短波長近赤外帯(SWIR)光学定数分散の検討

^○小貫哲平，小野竜典，柳町修介，尾嶌裕隆，清水淳，周立波 (茨大工)

14:45 〜 15:00

[17p-C13-6] トールボット干渉計を用いた大口径ガラス基盤の透過波面計測

^○（PC）喜入朋宏，小野明，早崎芳夫，谷田貝豊彦，武田光夫 (宇都宮大CORE)

15:00 〜 15:15

△ [17p-C13-7] 極短時間コヒーレンス動的光散乱法によるwall-drag効果の直接観測

^○渡会俊晴，岩井俊昭 (農工大)

休憩　（15:15 〜 15:30）

15:30 〜 15:45

[17p-C13-8] 光弾性変調器を用いたミュラー行列偏光計―散乱による偏光解消―

石田章伍，^○大谷幸利 (宇都宮大CORE)

15:45 〜 16:00

[17p-C13-9] 広ダイナミックレンジ散乱光計測装置を用いた回折光の角度分布計測

^○（PC）喜入朋宏¹，茨田大輔^1,2，八講学³，桃木和彦³，早崎芳夫¹，谷田貝豊彦¹ (宇都宮大CORE¹，宇都宮大工²，キヤノン³)

16:00 〜 16:15

[17p-C13-10] ポッケルスセルによる直流電圧計測器

^○高橋正雄，佐々木欣一 (東芝)

16:15 〜 16:30

[17p-C13-11] WGM微小共振器を用いた水中イオン含有率評価

^○西村治郎，田邉孝純 (慶大院理研)

16:30 〜 16:45

[17p-C13-12] 高画素タイプのPOFイメージガイドによるホログラム伝送と再生像の評価

^○野村佳祐，横田正幸 (島根大)

16:45 〜 17:00

[17p-C13-13] 参照面傾斜型白色干渉法を用いた高精度表面形状計測

^○松井繁，小野田有吾 (日立ハイテク)

17:00 〜 17:15

[17p-C13-14] Stroboscopic Talbot Interferometry for X-ray Phase Imaging of Periodic Processes in Soft Materials

^o(D)Margie Olbinado¹，Patrik Vagovic²，Wataru Yashiro²，Atsushi Momose² (GSFS, University of Tokyo¹，IMRAM, Tohoku University²)

セッション一覧

03．光 » 3.4 計測光学

[17a-P11-1~11] 3.4 計測光学

[17a-P11-1] 基準面と試料の非平行配置における低コヒーレンスディジタルホログラフィを用いた屈折率分布計測のための配置条件の考察

[17a-P11-2] 低コヒーレンス光源を用いたディジタルライトインフライトホログラフィによるシングルショット3次元形状計測

[17a-P11-3] 空間領域差分計測法による高分解能イメージング技術

[17a-P11-4] 複屈折イメージング装置を用いた結晶評価法の開発

[17a-P11-5] 蛍光寿命測定用レーザダイオード光源の高速パルス駆動

[17a-P11-6] 長さの物差しに使われる隣接するパルス繰返し間隔長

[17a-P11-7] 高反射ミラーの微小複屈折測定

[17a-P11-8] スロット導波路を利用した導波路型光センサの開発

▲ [17a-P11-9] 励起光入射によるエルビウム添加光ファイバ中のブリルアン散乱信号の増幅

[17a-P11-10] ナノ構造評価のための透過型分光ミュラー行列偏光計

[17a-P11-11] 強度輸送方程式によるシングルショット複素振幅計測法

[17p-C13-1~14] 3.4 計測光学

[17p-C13-1] 「応用物理学会論文奨励賞受賞記念講演」（15分）Defect Inspection Technique Using Surface Plasmon Resonance

[17p-C13-2] 多波長ディジタルホログラフィーによる直管内計測

△ [17p-C13-3] 導波モードセンサを利用した水素ガスの検知

[17p-C13-4] 欠陥検査のための空間-時間列変換を用いた超高速撮像技術

[17p-C13-5] 反射分光式シリコンウェハ厚さ計で用いる短波長近赤外帯(SWIR)光学定数分散の検討

[17p-C13-6] トールボット干渉計を用いた大口径ガラス基盤の透過波面計測

△ [17p-C13-7] 極短時間コヒーレンス動的光散乱法によるwall-drag効果の直接観測

[17p-C13-8] 光弾性変調器を用いたミュラー行列偏光計―散乱による偏光解消―

[17p-C13-9] 広ダイナミックレンジ散乱光計測装置を用いた回折光の角度分布計測

[17p-C13-10] ポッケルスセルによる直流電圧計測器

[17p-C13-11] WGM微小共振器を用いた水中イオン含有率評価

[17p-C13-12] 高画素タイプのPOFイメージガイドによるホログラム伝送と再生像の評価

[17p-C13-13] 参照面傾斜型白色干渉法を用いた高精度表面形状計測

[17p-C13-14] Stroboscopic Talbot Interferometry for X-ray Phase Imaging of Periodic Processes in Soft Materials