[20a-C9-1~12] 13.1 基礎物性・評価

▲ [20a-C9-6] Photocarrier Buildup Effects in Si Nanostripes Measured by Scanning Probe Microscopy

^○Leonid Bolotov^1,2，多田哲也²，福田浩一²，Vladimir Poborchii²，金山敏彦² (筑波大¹，産総所²)

キーワード：フォトキャリヤー,半導体,ﾌﾟﾛｰﾌﾞ顕微鏡