一般セッション(口頭講演)

[30a-B1-1~10] 7.2 電子顕微鏡，評価，測定，分析

2013年3月30日(土) 09:00 〜 11:45 B1 (K2号館 3F-1301)

△：奨励賞エントリー
▲：英語発表
▼：奨励賞エントリーかつ英語発表
空欄：どちらもなし

[30a-B1-1] 電子線トモグラフィーにおけるアライメント手法の定量的評価 (9:00 AM ～ 9:15 AM)

^○御堂義博，中前幸治 (阪大情報科学)

^○（D）李偉，丹司敬義 (名大)

^○石田高史¹，児玉哲司¹，川﨑忠寛²，小粥啓子³，生田孝⁴ (名城大理工¹，名大院工²，アプコ³，大阪電通大⁴)

^○山崎順¹，太田圭祐²，森下茂幸²，佐々木宏和³，田中信夫¹ (名大エコ研¹，名大工²，古河電工³)

^○山崎順¹，稲元伸²，野村優貴²，石田篤志²，秋山賢輔³，平林康男³，田中信夫¹ (名大エコ研¹，名大工²，神奈川県産技セ³)

^○秋田知樹，香山正憲 (産総研　ユビキタス)

^○（M1）小原康寛，大谷優，長田明，小寺正敏 (大工大工)

^○（M1）大谷優，長田明，小原康寛，熊谷健太郎，小寺正敏 (大阪工大)

^○（B）熊谷健太朗，大谷優，小原康寛，小寺正敏 (大工大)

^○備前大輔¹，早田康成¹，数見秀之² (日立中研¹，日立ハイテク²)