The 77th JSAP Autumn Meeting, 2016

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Oral presentation

Joint Session K "Wide bandgap oxide semiconductor materials and devices" » Joint Session K "Wide bandgap oxide semiconductor materials and devices"

[15p-A22-1~17] 21.1 Joint Session K "Wide bandgap oxide semiconductor materials and devices"

Thu. Sep 15, 2016 1:30 PM - 6:00 PM A22 (Main Hall B)

Yasuaki Ishikawa(NAIST), Mamoru Furuta(Kochi Univ. of Tech.)

2:45 PM - 3:00 PM

[15p-A22-6] Possible application of IGZO thin film transistor with High-k SrTa2O6 as GI using High Pressure Water Vapor Annealing

〇(M2)Kento Oikawa1, Mami Fujii1, Juan Paolo Bermundo1, Kiyoshi Uchiyama2, Yasuaki Ishikawa1, Yukiharu Uraoka1 (1.NAIST, 2.NIT, Tsuruoka College)

Keywords:oxide semiconductor, thin film transistor, SrTa2O6

低消費電力化を実現するにはディスプレイに用いられている薄膜トランジスタ(TFT)の高性能化が必要不可欠となっている。そこで、タンタル酸ストロンチウム(SrTa2O6: STA)を絶縁膜として選んだ。700℃の高温で焼成しなければ実用性のあるリーク電流を実現できなかったので、高圧水蒸気処理に着目し焼成温度を下げて作製した。その結果、低Vg電圧で急峻なスイッチング特性を得るだけでなく、リーク電流を低く抑えることができた。