The 63rd JSAP Spring Meeting, 2016

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.1 Fundamental properties, surface and interface, and simulations of Si related materials

[19p-S223-1~10] 13.1 Fundamental properties, surface and interface, and simulations of Si related materials

Sat. Mar 19, 2016 3:30 PM - 6:00 PM S223 (S2)

Tomo Ueno(TUAT), Koichiro Saga(Sony)

5:30 PM - 5:45 PM

[19p-S223-9] The development of artificial intelligence fusion adsorption simulator for semiconductor process

Emi Sato1, Manami Sato1, Yukiko Obara1, Kenji Inaba1, Yukie Ishizawa1, Masayuki Miyano1, Ryuji Miura1, Ai Suzuki1, Naoto Miyamoto1, Nozomu Hatakeyama1, Akira Miyamoto1, Patrick Bonnaud1 (1.Tohoku Univ.)

Keywords:semiconductor,adsorption

Si は半導体材料の代表として位置付けられ様々な面から研究されており、表面の構造解析など原子レベルでの研究が進んでいるが、温度特性や吸着分子との相互作用など、課題は多い。
従来、モンテカルロ吸着シミュレーションで化学吸着を考慮したパラメータを決定する際には手動で行っていたが、より理論的にするために人工知能を融合した超高速量子分子動力学シミュレーションを用いたモンテカルロ法パラメータ開発を行っている。