2017年第64回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

15 結晶工学 » 15.7 結晶評価,不純物・結晶欠陥

[15a-F201-1~12] 15.7 結晶評価,不純物・結晶欠陥

2017年3月15日(水) 09:00 〜 12:15 F201 (F201)

清井 明(三菱電機)、竹内 正太郎(阪大)

09:45 〜 10:00

[15a-F201-4] 炭素クラスターイオン注入Siエピウェーハの特徴(4)
-注入層における酸素が重金属のゲッタリング能力に与える影響(2)-

柾田 亜由美1、仲井 敏郎1、廣瀬 諒1、重松 理史1、門野 武1、奥山 亮輔1、古賀 祥泰1、奥田 秀彦1、栗田 一成1 (1.株式会社SUMCO)

キーワード:シリコンウェーハ、炭素クラスターイオン注入、近接ゲッタリング