The 65h JSAP Spring Meeting, 2018

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.4 Si wafer processing /Si based thin film /Interconnect technology/ MEMS/ Integration technology

[20p-C101-1~11] 13.4 Si wafer processing /Si based thin film /Interconnect technology/ MEMS/ Integration technology

Tue. Mar 20, 2018 1:45 PM - 4:45 PM C101 (52-101)

Reo Kometani(Univ. of Tokyo)

2:45 PM - 3:00 PM

[20p-C101-5] Characterization of the minimal CVD tool in the hydrodynamic point of view

Yuuki Ishida1,2, Takanori Mikahara1, Noriko Miura2, Shinichi Ikeda1,2, Takahiro Ito3, Hitoshi Habuka4, Sommawan Khumpuang1,2, Shiro Hara1,2 (1.AIST, 2.MINIMAL, 3.ORIENTAL MOTOR, 4.Yokohama National Univ.)

Keywords:CVD, Epitaxial growth, Minimal Fab

ミニマルCVD装置のレイノルズ数は1以下であり、通常のメガファブ用CVD装置のレイノルズ数に比べ2~4桁小さい。低レイノルズ数領域では、ガス流れは炉内内部構造に大きく影響され、メガファブ装置では見られない特異な流れが生じる。シミュレーションによりこのような現象を解析し、低レイノルズ数領域でのガス流れを明らかにする。