14:30 〜 14:45 △ [21p-E310-7] 硬X線光電子分光法による金属/GaN界面のバンド構造評価 〇水島 啓貴1、新井 龍志1、稲葉 雄大1、山下 俊介1、山口 雄大1、蟹谷 裕也1、工藤 喜弘1、濱口 達史1、幸田 倫太郎1、簗嶋 克典1、冨谷 茂隆1 (1.ソニー株式会社)