The 80th JSAP Autumn Meeting 2019

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Oral presentation

6 Thin Films and Surfaces » 6.4 Thin films and New materials

[20p-C310-1~16] 6.4 Thin films and New materials

Fri. Sep 20, 2019 1:45 PM - 6:00 PM C310 (C310)

Tetsuo Tsuchiya(AIST), Takayuki Ishibashi(Nagaoka Univ. of Tech.)

2:30 PM - 2:45 PM

[20p-C310-4] Fabrication of MoO2 Thin Films by a Mist CVD Method and Their Electrical Characterization

〇(D)Yuya Matamura1, Takumi Ikenoue1, Masao Miyake1, Tetsuji Hirato1 (1.Kyoto Univ.)

Keywords:Mist CVD method, Molybdenum dioxide

ミスト CVD 法を用いて MoO2 単相薄膜が得られる条件を明らかにし、得られた膜の電気特性を評価した。440‐480°C の範囲で、ガラス基板上に配向した単相 MoO2 が得られることを明らかにした。比抵抗は 2 ×10-3 Ω cm と溶液プロセスで作製したものよりも低い値を示した。