2019年第80回応用物理学会秋季学術講演会

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シンポジウム(口頭講演)

シンポジウム(technical) » 窒化物半導体エッチング技術 〜高制御性と低損傷性を求めて〜

[20p-E301-1~9] 窒化物半導体エッチング技術 〜高制御性と低損傷性を求めて〜

2019年9月20日(金) 13:30 〜 17:35 E301 (E301)

加藤 正史(名工大)、佐藤 威友(北大)

14:35 〜 15:05

[20p-E301-4] GaN ウエットエッチング

堀切 文正1、福原 昇1 (1.サイオクス)

キーワード:窒化ガリウム、ウエットエッチング、光電気化学

GaN はその安定性から化学エッチングが困難であるが、光電気化学反応によりエッチングが可能である。本報告では、HEMTのリセス加工への応用のための、(1)安価な単一のUVC光源によるGaN中のホール生成および電解液中のSO4·-ラジカルの同時生成、(2)リン酸系電解液によるレジストマスクの適用、並びに、(3)カソード設計による半絶縁基板上GaN試料への適応など、基本的な要素技術について紹介する。