シンポジウム(口頭講演)

[10p-Z15-1~10] 先端イオン源顕微鏡技術：ナノ材料・デバイス、生命科学への展開

2020年9月10日(木) 13:30 〜 17:45 Z15

米谷玲皇(東大)、小川真一(産総研)

△：奨励賞エントリー
▲：英語発表
▼：奨励賞エントリーかつ英語発表
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13:30 〜 14:00

▲ [10p-Z15-1] Nanostructuring for heat flux management in semiconductor thin films

〇Masahiro Nomura¹ (1.Univ. of Tokyo)

14:00 〜 14:15

▲ [10p-Z15-2] Graphene nanomesh patterned by helium ion beam milling towards the application of quantum devices

〇(P)Fayong Liu¹、 Manoharan Muruganathan¹、 Shinichi Ogawa²、 Yukinori Morita²、 Zhongwang Wang¹、 Marek Schmidt¹、 Hiroshi Mizuta¹ (1.JAIST、2.AIST)

14:15 〜 14:45

▲ [10p-Z15-3] Fabrication of nanofiber Bragg cavities using a Neon ion beam

〇Hideaki Takashima¹、 Hiroki Kawaguchi¹、 Konosuke Shimazaki¹、 Toshiyuki Tashima¹、 Shigeki Takeuchi¹ (1.Kyoto Univ.)

14:45 〜 15:00

▲ [10p-Z15-4] Helium Ion Beam Induced Stress on Graphene Cantilever

〇(PC)Ahmed HAMMAM^1,2、 Shinichi Ogawa³、 Yukinori Morita³、 Amit Banerjee²、 Manoharan Muruganathan²、 Hiroshi Mizuta² (1.Minia Univ、2.JAIST、3.AIST)

15:00 〜 15:30

▲ [10p-Z15-5] Application of Neon Ion Beam for Processing III-V Semiconductors and Atom Probe Sample Preparation of Ga Sensitive Materials

Deying Xia²、〇Hanfang Hao¹、 Vignesh Viswanathan¹、 John Notte² (1.Carl Zeiss Pte Ltd、2.Carl Zeiss SMT Inc.)

15:45 〜 16:15

▲ [10p-Z15-6] Analytical capabilities on FIB instruments using SIMS: applications, current developments and prospects

〇Olivier De Castro¹、 Jean-Nicolas Audinot¹、 Antje Biesemeier¹、 Quang Hung Hoang¹、 Tom Wirtz¹ (1.LIST)

16:15 〜 16:45

▲ [10p-Z15-7] Large scale integrated superconducting Josephson circuits fabricated with focused helium ion irradiation

〇Shane Cybart¹ (1.Univ. of California, Riverside)

16:45 〜 17:00

▲ [10p-Z15-8] Negative magnetoresistance of helium-ion-irradiated graphene in the strong Anderson localization regime

Tatsuya Iwasaki¹、 Manoharan Muruganathan²、 Masashi Akabori²、 Yoshifumi Morita³、 Satoshi Moriyama¹、〇Shinichi Ogawa⁴、 Yutaka Wakayama¹、 Hiroshi Mizuta^2,5、 Shu Nakaharai¹ (1.NIMS、2.JAIST、3.Gunma Univ.、4.AIST、5.Hitachi)

17:00 〜 17:30

▲ [10p-Z15-9] Ion beam based analysis for medical application

〇Mitsutoshi Setou^1,2 (1.Hamamatsu Univ. Sch. of Medicine、2.International Mass Imaging Center)

17:30 〜 17:45

▲ [10p-Z15-10] Evaluation method of vibration spectra of nanomechanical resonators using Helium Ion Microscope

〇Masaki Saito¹、 Shinichi Ogawa^2,3、 Yukinori Morita^2,3、 Shin'ichi Warisawa^1,3、 Reo Kometani^1,3 (1.Univ. of Tokyo、2.AIST、3.Operando-OIL)

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