The 81st JSAP Autumn Meeting, 2020

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Oral presentation

13 Semiconductors » 13.4 Si processing /Si based thin film / MEMS / Equipment technology

[10a-Z10-1~10] 13.4 Si processing /Si based thin film / MEMS / Equipment technology

Thu. Sep 10, 2020 8:45 AM - 11:30 AM Z10

Hitoshi Habuka(Yokohama Natl. Univ.)

9:15 AM - 9:30 AM

[10a-Z10-3] Development of Minimal Ion Implantation Tool (III)

Noriko Miura1, Naoki Hashimoto1,2, Yoshitaka Kitamura1,2, Fumito Imura3, Kazushige Sato1, Kazuhiro Koga1, Yuuki Ishida1,3, Toshiyuki Oodaira3, Sommawan Khumpuang1,3, Shiro Hara1,3 (1.MINIMAL, 2.FUJI IMVAC INC., 3.AIST)

Keywords:minimalfab, Ion Implantation

我々はミニマルファブの開発の一環として、イオン注入装置の開発も行っているが、現行の装置ではウェハ外周で注入量が著しく減少する、高濃度注入時にシート抵抗値が積算イオン電流値から求められる値に比べて高くなるなどの課題がある。本研究では、これらの課題を克服すべく、ビームスキャン方法によるシート抵抗分布の変化、シート抵抗のアニール条件依存性等の評価を行ったので、その結果について報告する。