セッション情報

ランチョンセミナー

[LS4(English)] Interherence/日本カンタム・デザイン

2024年7月17日(水) 12:00 〜 13:00 D会場 (2F 中会議室202)

[1D10] High sensitivity and high throughput microscopy: Chip-based technologies for precise control
of sample temperature and illumination

*Pierre Türschmann¹, *Noel Fitzgerald¹ (1. Interherence)