[A06-3am] 06. 分析化学

[A06-3am-01] X線支援原子間力顕微鏡XANAMによるX線誘起の力変化を利用したSi基板上のGe量子ドットのX線元素分析

^○鈴木 秀士¹、向井 慎吾²、田 旺帝³、野村 昌治⁴、藤森 俊太郎1¹、池田 弥央¹、牧原 克典¹、宮﨑 誠一¹、朝倉 清高² (1. 名古屋大学、2. 北海道大学、3. 国際基督教大学、4. 高エネルギー加速器研究機構)

［言語］日本語

キーワード：X線元素分析、非接触原子間力顕微鏡、放射光X線、ゲルマニウム、量子ドット