15:05 〜 15:25
[DP6-01] 表面反射アナライザ(RA-532H)によるBRDF計測
ハンディ測定器でありながらBRDF測定技術を搭載した、RA-532Hの概要を説明する。また、RA-532Hを使用したBRDF測定事例、独自の質感指標の紹介を行う。
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一般セッション(口頭講演)
Imaging Conference JAPAN 2019 » 2.5D,加飾
2019年7月4日(木) 15:05 〜 16:05 コンファレンスルーム (工学系総合研究棟2二階)
座長:鎰谷 賢治(株式会社リコー)、坂谷 一臣(コニカミノルタ株式会社)
15:05 〜 15:25
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