一般セッション(口頭講演)
[19p-S322-1~14] 1.5 計測技術・計測標準
2016年3月19日(土) 13:45 〜 17:30 S322 (南3号館)
△：奨励賞エントリー
▲：英語発表
▼：奨励賞エントリーかつ英語発表
空欄：どちらもなし
13:45 〜 14:00
〇田邊 健彦1、 赤松 大輔1、 小林 拓実1、 高見澤 昭文1、 柳町 真也1、 池上 健1、 鈴山 智也1、 稲場 肇1、 大久保 章1、 安田 正美1、 洪 鋒雷1,2、 大苗 敦1、 保坂 一元1 (1.産総研、2.横浜国大)
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14:00 〜 14:15
〇池上 健1、 渡部 謙一1、 柳町 真也1、 高見澤 昭文1、 平野 育1、 萩本 憲1、 ハートネット ジョン2 (1.産総研、2.アデレード大)
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14:15 〜 14:30
〇樋沢 拓真1、 高橋 雅人2、 岩瀬 英治1 (1.早大機械航空、2.理化学研究所)
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14:30 〜 14:45
〇大江 武彦1、 Sucheta Gorwadkar1、 板谷 太郎1、 金子 晋久1 (1.産総研)
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14:45 〜 15:00
〇天野 みなみ1、 阿部 恒1 (1.産総研)
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15:00 〜 15:15
〇山口 祐1、 笹嶋 尚彦1、 山田 善郎1 (1.産総研)
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15:15 〜 15:30
〇坂口 孝幸1 (1.産総研物質計測標準)
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15:30 〜 15:45
〇坂田 義太朗1、 寺崎 正1、 野中 一洋1 (1.産総研)
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16:00 〜 16:15
〇一木 博文1、 高橋 芳弘1、 二神 光次2、 川口 俊郎2、 三島 正章2 (1.九産大工、2.財)光線研究所)
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16:15 〜 16:30
〇鈴木 淳1 (1.産総研分析計測標準RI)
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16:30 〜 16:45
〇(D)深田 健太1、 白鳥 世明1 (1.慶大院理工)
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16:45 〜 17:00
〇西田 順一1、 坂井 佑1、 東 圭1、 岩倉 行志1 (1.リオン)
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17:00 〜 17:15
〇堀田 昌直1、 野島 雅2、 胡桃 聡3、 鈴木 薫3、 足立 達哉4、 草梛 高志4、 盛谷 浩右5 (1.(同)オフィスタンデム、2.東京理科大学総研、3.日本大学理工、4.(株）アンペール、5.兵庫県立大学工研)
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17:15 〜 17:30
〇寺崎 正1、 藤尾 侑輝1 (1.産総研、製造技術研究部門)
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