2016年第63回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

[19a-S423-1~13] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

2016年3月19日(土) 09:00 〜 12:30 S423 (南4号館)

佐々木 実(豊田工大)、角村 貴昭(東京エレクトロン)

09:15 〜 09:30

[19a-S423-2] ミニマル液体ドーパントプロセスによるCMOS試作(II)

古賀 和博1,2、居村 史人1,2、北山 侑司2、クンプアン ソマワン1,2、原 史朗1,2 (1.産総研、2.ミニマルファブ)

キーワード:CMOSインバータ

我々はイオン注入法の代わりに、ボロン溶剤を用いたスピンオンによる熱拡散法を採用しドーピングプロセスを開発している。CMOSインバータの試作について先に報告済であるが、今回は貫通電流などの特性改善について報告する。