2017年第78回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

[8a-C21-1~11] 13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・配線・MEMS・集積化技術

2017年9月8日(金) 09:15 〜 12:00 C21 (C21)

米谷 玲皇(東大)

10:15 〜 10:30

[8a-C21-5] Sol-Gel膜とFLAを用いた極浅領域のコンフォーマルドーピング技術

布施 和彦1、谷村 英昭1、青山 敬幸1、加藤 慎一1、小林 一平1 (1.SCREEN)

キーワード:フラッシュランプアニール、コンフォーマルドーピング、接合形成

FinFETにおけるソース/ドレイン(S/D)領域の接合形成では、極めて浅い領域に無欠陥で高濃度かつコンフォーマルにドーピングできる技術が求められる。本研究では、ヒ素ドープしたSol-Gel Coating (SGC)膜とFlash Lamp Annealing (FLA)を組み合わせることで良好な接合形成を実現した。本手法は、3DデバイスのS/Dエクステンション形成に有効なひとつの手段であると考える。