一般セッション(口頭講演)
[15a-301-1~7] 8.2 プラズマ診断・計測
09:00 〜 09:15
〇江藤 宗一郎1、 大森 健史1、 井上 智己2 (1.日立研開、2.日立ハイテク)
09:15 〜 09:30
〇堤 隆嘉1、 Sirse Nishant2、 Ellingboe Albert2、 Sekine Makoto1、 Hori Masaru1 (1.Nagoya Univ.、2.Dublin City Univ.)
09:30 〜 09:45
〇橘 邦英1、 中村 敏浩1、 川崎 三津夫2、 森田 達夫3 (1.大阪電通大、2.京大工、3.PMディメンションズ)
09:45 〜 10:00
〇堀田 朋敬1,2、 山田 大将1,2、 野中 淳司1,2、 岡本 敦3、 北島 純男4、 藤原 正純2、 加藤 進2、 板垣 宏知2、 榊田 創1,2 (1.筑波大院システム情報工、2.産総研、3.名古屋大院工、4.東北大院工)
10:00 〜 10:15
〇兒玉 直人1、 石坂 洋輔1、 清水 光太郎1、 田中 康規1、 上杉 喜彦1、 石島 達夫1、 末安 志織2、 渡邉 周2、 中村 圭太郎2 (1.金沢大院自然、2.日清製粉グループ本社)
10:15 〜 10:30
〇(M1)川上 皓太郎1、 西山 修輔1、 佐々木 浩一1 (1.北大工)
10:30 〜 10:45
〇佐藤 祐太1、 江口 寿明1、 築山 昌一1、 深田 来夢1、 富田 健太郎1、 内野 喜一郎1 (1.九大総理工)