一般セッション(口頭講演)
[12p-B408-1~10] 1.5 計測技術・計測標準
13:30 〜 13:45
〇塩沢 慎也1、 廣瀬 大亮1、 高村 禅1 (1.北陸先端大)
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13:45 〜 14:00
〇阿部 恒1、 橋口 幸治1、 本田 真一2、 板橋 健一2、 清水 裕行2、 三宅 伴季2 (1.産総研、2.神栄テクノロジー(株))
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14:00 〜 14:15
〇(M1)石川 潤1、 田中 貴久2、 内田 建2 (1.慶大工、2.東大工)
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14:15 〜 14:30
〇石渡 尚也1、 丹羽 民夫1、 阿部 恒1 (1.産総研 計量標準総合センター)
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14:30 〜 14:45
〇(D)Adie Tri Hanindriyo1、 Soumya Sridar2、 K. C. Hari Kumar2、 Kenta Hongo1、 Ryo Maezono1 (1.JAIST、2.IITM)
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14:45 〜 15:00
〇中山 陽次郎1、 山本 裕史1、 畠山 達彦2 (1.住友電工、2.北野精機)
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15:00 〜 15:15
〇鈴木 宏輔1、 鈴木 駿太1、 武藤 祐介1、 星 和志1、 大野 由美子2、 取越 正己3、 櫻井 浩1 (1.群大理工、2.健科大診療放射線、3.国際科学技術センター)
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15:15 〜 15:30
〇山内 常生1 (1.BSR)
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15:30 〜 15:45
〇寺崎 正1、 安藤 直継2、 兵頭 啓一郎2 (1.産総研、2.ユアサシステム機器)
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15:45 〜 16:00
〇安藤 直継1、 兵頭 啓一郎1、 篠山 智生2、 横井 祐介2、 寺崎 正3 (1.ユアサシステム機器、2.島津製作所、3.産総研)
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