一般セッション(口頭講演)
[20p-E313-1~17] 1.5 計測技術・計測標準
13:15 〜 13:30
〇鈴木 章吾1、 松田 聖樹1、 木村 建次郎1,2,4、 美馬 勇輝3,4、 木村 憲明3,4 (1.神大院理、2.神戸大数理データ、3.Integral Geometry Science、4.JST-MIRAI)
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13:30 〜 13:45
〇高橋 知之1、 金原 匡隆2、 細井 勉2、 頼永 宗男2、 佐々木 教真3、 西川 雅美1、 石橋 隆幸1 (1.長岡技大、2.(株)SOKEN、3.(株)オフダイアゴナル)
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13:45 〜 14:00
〇石渡 尚也1、 丹羽 民夫1、 阿部 恒1 (1.産総研 計量標準総合センター)
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14:00 〜 14:15
〇阿部 恒1、 橋口 幸治1、 本田 真一2、 清水 裕行2、 三宅 伴季2 (1.産総研、2.神栄テクノロジー)
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14:15 〜 14:30
〇天野 みなみ1、 阿部 恒1 (1.産総研)
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14:30 〜 14:45
〇石原 卓也1、 添田 将1、 関根 正志1、 新村 悠祐1 (1.アズビル株式会社)
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14:45 〜 15:00
〇渡邉 駿介1、 潮見 幸江1、 彦坂 太一1、 山本 竜典1、 佐々木 大1、 知久 拓希1、 薛 凱倫1、 山田 功1 (1.群大理工)
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15:00 〜 15:30
〇宍戸 厚1 (1.東工大)
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15:30 〜 15:45
〇安藤 直継1、 兵頭 啓一郎1、 篠山 智生2、 岩尾 快彦2、 津田 智哉2、 寺崎 正3 (1.ユアサシステム機器、2.島津製作所、3.産総研)
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15:45 〜 16:00
〇中野 享1 (1.産総研)
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16:00 〜 16:15
〇河村 泰樹1、 松本 信洋1、 中野 享1 (1.産総研)
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16:15 〜 16:30
〇角田 直人1、 上間 喬斗1、 鷲塚 裕貴1 (1.首都大)
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16:30 〜 16:45
〇岡野 誠1,2、 細木 直樹1、 米村 晃子1、 桜井 誠2 (1.日本電子、2.農工大)
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16:45 〜 17:00
〇滝沢 辰洋1 (1.信大繊維)
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17:00 〜 17:15
〇車 裕輝1、 坂口 孝幸1、 桜井 博1 (1.産総研)
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17:15 〜 17:30
〇(M2C)Sifan Liu1、 Chao Zhang1、 Neisei Hayashi2、 Lei Jin1、 Sze Yun Set1、 Shinji Yamashita1 (1.The Univ. of Tokyo、2.Tokyo Inst. of Technology)
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17:30 〜 17:45
〇鈴木 淳1、 永井 秀和1 (1.産総研分析計測標準)
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