一般セッション(口頭講演)
[11p-M116-1~15] 1.5 計測技術・計測標準
2019年3月11日(月) 13:15 〜 17:00 M116 (H116)
寺崎 正(産総研)、阿部 恒(産総研)、天野 みなみ(産総研)
△:奨励賞エントリー
▲:英語発表
▼:奨励賞エントリーかつ英語発表
空欄:どちらもなし
13:15 〜 13:30
〇花村 友喜1、 山田 亮1、 夛田 博一1 (1.阪大院基礎工)
13:30 〜 13:45
本田 真一1、 板橋 健一1、 橋口 幸治2、 〇阿部 恒2 (1.神栄テクノロジー(株)、2.産総研)
13:45 〜 14:00
〇天野 みなみ1、 阿部 恒1 (1.産総研)
14:00 〜 14:15
〇安齋 由美子1、 大澤 賢太郎1、 峯邑 浩行1、 梅田 麻理子1、 塩澤 学1 (1.日立研開)
14:15 〜 14:30
〇甕 久実1、 大嶋 卓1 (1.日立研開)
14:30 〜 14:45
〇坂口 孝幸1、 車 裕輝1、 桜井 博1 (1.産総研計量標準)
14:45 〜 15:00
〇五十嵐 陽彦1、 吉野 巧1、 宮田 一輝1,2、 宮澤 佳甫2、 宇野 恵3、 高東 智佳子3、 福間 剛士1,2 (1.金大理工、2.金大NanoLSI、3.荏原製作所)
15:00 〜 15:15
〇水島 大地1、 平田 海斗2、 鐘 承超3、 宮田 一輝2,4、 宮澤 佳甫4、 陰山 洋3、 福間 剛士2,4 (1.金大理工、2.金大院、3.京大院、4.金大NanoLSI)
15:15 〜 15:30
〇鈴木 淳1、 永井 秀和1、 中村 健1、 藤原 幸雄1 (1.産総研分析計測RI)
15:30 〜 15:45
〇小林 孝嘉1,2、 中田 和明1,2、 鶴井 博理3 (1.電通大脳科学、2.東京理科大理、3.順天堂大医)
15:45 〜 16:00
石原 浩行1,2、 〇若家 冨士男1、 村上 勝久2、 長尾 昌善2、 宮戸 祐治1、 山下 隼人1,3、 阿保 智1、 阿部 真之1 (1.阪大院基礎工、2.産総研、3.JSTさきがけ)
16:00 〜 16:15
〇(D)Adie Tri Hanindriyo1、 Soumya Sridar2、 K. C. Hari Kumar2、 Kenta Hongo3,4,5、 Ryo Maezono3 (1.Grad. Sch. Adv. Sci. Tech., JAIST、2.Dept. Metal. Mater. Eng.,IITM、3.Sch. Info. Sci., JAIST、4.NIMS、5.PRESTO,JST)
16:15 〜 16:30
〇(D)鈴木 章吾1、 松田 聖樹1、 木村 建次郎1,3、 美馬 勇輝2、 木村 憲明2 (1.神大数理データサイエンスセンター、2.Integral Geometry Science、3.JST-MIRAI)
16:30 〜 16:45
〇寺崎 正1、 藤尾 侑輝1、 加藤 正樹2、 近藤 光一郎3 (1.産総研、2.あいち産業科学技術総合センター、3.名古屋市工研究所)
16:45 〜 17:00
〇椴山 誉1,2,3、 佐々木 芳彰2、 吉峯 功2、 永野 繁憲1、 湯浅 哲也3、 大谷 知行2 (1.トプコン、2.理研 光量子工学研究センター、3.山形大)